職位描述
性能測試功能測試
崗位職責：
1、負責MCU相關功能的FPGA驗證測試和芯片性能測試
2、負責MCU相關功能的測試方案設計和測試執(zhí)行
3、負責MCU應用測試文檔的編寫及歸檔
4、協(xié)助研發(fā)、技術支持進行MCU產品的問題分析、客戶支持
5、公司安排的其它工作
任職要求：
1、負責MCU相關功能的FPGA驗證測試和芯片性能測試
2、負責MCU相關功能的測試方案設計和測試執(zhí)行
3、負責MCU應用測試文檔的編寫及歸檔
4、協(xié)助研發(fā)、技術支持進行MCU產品的問題分析、客戶支持
5、公司安排的其它工作
1、負責MCU相關功能的FPGA驗證測試和芯片性能測試
2、負責MCU相關功能的測試方案設計和測試執(zhí)行
3、負責MCU應用測試文檔的編寫及歸檔
4、協(xié)助研發(fā)、技術支持進行MCU產品的問題分析、客戶支持
5、公司安排的其它工作
任職要求：
1、負責MCU相關功能的FPGA驗證測試和芯片性能測試
2、負責MCU相關功能的測試方案設計和測試執(zhí)行
3、負責MCU應用測試文檔的編寫及歸檔
4、協(xié)助研發(fā)、技術支持進行MCU產品的問題分析、客戶支持
5、公司安排的其它工作
工作地點
上海浦東新區(qū)星創(chuàng)科技廣場1號樓9樓
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職位發(fā)布者
楊丹/人事經理
立即溝通
普冉半導體(上海)股份有限公司普冉半導體（上海）股份有限公司是專注于汽車、工業(yè)及消費類應用的超低功耗Flash存儲器、高安全Flash存儲器、高可靠性EEPROM存儲器、直流電機驅動及高性能磁傳感芯片的無自有晶圓廠半導體設計公司。公司成立于2012年，總部位于上海張江高科技園區(qū)，在深圳南山科技園新區(qū)設有銷售和現(xiàn)場應用服務與支持中心。作為半導體行業(yè)創(chuàng)新者，普冉推出業(yè)界領先的55nm超低功耗NOR Flash Memory，具備100nA休眠功耗和小于5mA擦寫讀功耗，廣泛用于IoT、手持、OLED屏、穿戴、安防、PC、家電、太陽能和車載娛樂領域。新一代110nm非易失性EEPROM存儲器具備國內領先的400萬次擦寫壽命、6KV靜電防護能力、極低的工作電流和靜態(tài)功耗，在智能電網、汽車前裝、工業(yè)控制領域廣泛應用。普冉配合國內領先半導體企業(yè)開發(fā)的40-55nm高安全Flash產品也成為國內金融IC產品打破國外壟斷的先行者和貢獻者。普冉致力于成為世界領先的利基市場非易失存儲器芯片及新型存儲器芯片設計公司。
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